소 속
| 건국대학교 |
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발명자
| 박배호 |
기술분류
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키워드
| AFM |
| 기술개요 | 그래핀의 도메인 및 두께 측정방법에 관한 기술로 진공이나 고온과 같은 극한 환경을 필요로 하지 않고, 원자간력 현미경(Atomic Force Microscope; AFM)을 이용하여 상온, 상압에서 그래핀의 도메인과 두께를 측정할 수 있는 방법에 관한 것임 | ||
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| 기술특징 | |||
| 시장동향 | |||
| 개발현황 | |||